اندازهگیری ویژگی‌های اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی
Authors
Abstract:
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه‌ها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است. پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلی‌وات استفاده کردیم. علامت و
similar resources
اندازه گیری ویژگی های اپتیکی غیرخطّی لایه های نازک نانوساختاری مس و روی
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه ها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش-...
full textبررسی اثر آهنگ انباشت روی نانوساختار لایههای نازک مس و ثابت‌های اپتیکی آن‌ها
در این پژوهش اثر آهنگ انباشت روی ثابت‌های اپتیکی لایههای نازک مس در بازه طول موج (nm 3300 - 175) به روش کریمرز-کرونیگ بررسی شده‌اند. این لایه‌ها به روش تبخیر در خلاء توسط پرتو تفنگ الکترونی و با آهنگ انباشتی در بازه (Å/s 20 - 6/0) در دمای K 313 و زاویه °5/8 تهیه شده‌اند و سپس اندازه‌گیری‌های اپتیکی توسط دستگاه اسپکتروفتومتر (Carry 500) انجام شده است. برای بررسی اثر آهنگ انباشت روی ثابت‌های ...
full textبررسی خواص اپتیکی لایههای نازک مس بر زیرلایه شیشه با روش کرایمرز کرونیگ
Different thicknesses of 99.97% Cu are deposited on glass substrate by thermal evaporation method at the rate of 2A˚/sec. Kramers-Kronig method is used for the analysis of the reflectivity constant in the range of 200nm<λ2eV, by increasing the thickness, the imaginary part of refraction index, k, increases and real part, n, decreases. At higher energies, both constants reach the asymptotic valu...
full textبررسی تحلیلی ارتعاش آزاد غیرخطی ورق نازک مستطیلی مگنتوالکتروالاستیک بر روی یک بستر غیرخطی
در این مقاله، ارتعاش آزاد غیرخطی ورق نازک مستطیلی مگنتوالکتروالاستیک بررسی شده است. ورق بر روی یک بستر غیرخطی قرار گرفته است و برای استخراج معادلات حرکت از توری کلاسیک ورق استفاده شده است. ورق به دو صورت تک‌لایه‌ای یکنواخت و مدرج در نظر گرفته شده است. تکیه‌گاه ورق به صورت ساده در نظر گرفته شده و سطوح بالا و پایین ورق تحت اختلاف پتانسیل‌های الکتریکی و مغناطیسی قرار گرفته‌اند. معادله حرکت این ورق...
full textبررسی خواص اپتیکی لایه های نازک مس بر زیرلایه شیشه با روش کرایمرز کرونیگ
مس با خلوص 99.97% را در ضخامت های متفاوت بر زیرلایه شیشه، به روش تبخیر در خلاء با آهنگ 2aº/sec رشد داده ایم. طیف ضریب بازتاب (r) نمونه ها را در فرود تقریبا عمود در بازه طول موج 200nm<λ<3000nm با دستگاه طیف سنجی 500 carry به دست آوردیم و با استفاده از آن، بخش حقیقی و موهومی ضریب شکست (n و k) و ضرایب دی الکتریک (ε2وε1) را با روش کرایمرز کرونیگ (k.k.) به دست آوردیم و با نمونه حجمی مقایسه کردیم. نت...
full textرشد نانوساختارهای اکسیدروی به روش احیاء کربوترمالی بر روی نانوصـفحه مس : مشخصه یابی اپتیکی و ساختاری
در این پژوهش نانوساختارهای اکسید روی با روش احیاء کربوترمال روی نانو‌صفحه‌ای از مس که با روش کندوپاش مگنترونی روی بستر سیلیکونی نشانده شد، رشد داده شدند و نانوساختارهای حاصل از لحاظ ریخت سطحی با میکروسکوپ الکترونی روبشی اثر-میدانی (FE SEM ) و از لحاظ ساختاری با XRD و از لحاظ نورتابی با لامپ UV و همچنین از لحاظ جذب وبازتاب نور با طیف سنج UV-Vis-NearIR آنالیز شدند و تراکم عنصری با کمک طیف‌سنجی...
full textMy Resources
Journal title
volume 3 issue 1
pages 67- 74
publication date 2013-06-22
By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023